日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產(chǎn)品型號：

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時間：2024-09-07

簡要描述：日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES
根據(jù)測量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

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日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

產(chǎn)品特點(diǎn)

易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES

根據(jù)測量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

•世界上首ge可替換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便攜式座位電阻測量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時間：24小時（*電池）使用時）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從xin數(shù)據(jù)顯示）

•存儲的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮動小數(shù)點(diǎn)（0.000到9999）

日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
（* 大于每個探頭的測量點(diǎn)尺寸）

<測量點(diǎn)>

?無損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測量范圍

?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

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