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產(chǎn)品型號:
所屬分類:超聲波測厚儀
產(chǎn)品時間:2024-09-09
簡要描述:日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(膜厚度計)。以非接觸方式(軟X射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(膜厚度計)。以非接觸方式(軟X射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結(jié)果。高精度測量是困難的。
另一方面,在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減,但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大,運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進行測量。
軟X射線測厚儀的一般功能
與傳統(tǒng)的軟X射線測厚儀相比,我們的軟X射線測厚儀的功能
采用
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
X射線測厚儀SX-1100的規(guī)格 | |
物品 | 規(guī)格 |
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姓名 | X射線測厚儀SX-1100 |
測量方法 | X射線透射法 |
檢測方式 | 閃爍檢測器方法 |
被測物 | 根據(jù)測量目標(如薄膜和箔紙)的z佳設計 |
測量間距 | 標準2mm(可提供更細的間距) |
掃描寬度 | 標準150-3000mm(也可提供其他寬度) |
掃描速度 | 15-300毫米/秒(標準) |
框架結(jié)構 | O型等各種鏡框 |
光斑尺寸 | 約φ7.5mm(標準)(工作時) |
X射線源 | 70 x 83毫米x 250毫米(標準) |
檢測單元 | 70 x 83毫米x 220毫米(標準) |
電源 | 100V單相1kVA |
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